小型8/20μs冲击电流测试系统

• >测试量级：

  8/20μs电流波

  源输出阻抗：500Ω（1~10A）

  源输出阻抗：50Ω（11~120A）

• >适用标准：

  IEC 61643-1

  GB/T 18802.1

• >应用：

  用于测试元器件通流能力、USB端口电源浪涌等，适用于消费电子和通讯等领域的浪涌测试需求。

• >测试量级：

  >1.2/50μs-8/20μs雷击测试系统

  输出开路：20KV±10%

  输出短路：10kA±10%

  输出虚拟内阻：2Ω

  
  

  >10/700μs-5/320μs雷击测试系统

  输出开路：10KV±10%

  输出短路：250A±10%

  输出虚拟内阻：40Ω

  
  

  >8/20μs测试系统
  

  充电电压：10KV±10%

  输出电流：20KA±10%

  输出虚拟内阻：0.5Ω

  
  

  >10/350μs直击雷测试系统
  

  充电电压：10KV±10%

  输出电流：750A±10%
  

  输出虚拟内阻：13Ω

  
  

  >10/1000μs测试系统

  充电电压：10KV±10%

  输出电流波：250A±10%

  输出虚拟内阻：40Ω

• >适用标准：

  IEC 61000-4-5
  

  GB/T 17626.5

  
  

• >应用：

  用于模拟由于雷电瞬变引起的浪涌冲击抗干扰测试，适用于通讯、电源、安防、医疗、工业、消费电子等领域的浪涌测试需求。